GaN DHTOL动态高温寿命老化测试

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GaN DHTOL动态高温寿命老化测试

对GaN MOS施加规定温度、电压、电流、开关频率对器件进行动态HTOL筛选

Vds电压范围0~650v,Ids电流范围0.1~3A,Vds程控,Ids通过老化板电阻设置

电压电流应力交替频率范围是10kHz~500kHz,占空比范围范围2~50%

通(电流应力)状态,栅级电压可设置范围是3~15V,关断(电压应力)状态,栅级电压可设置范围是-10~-1V

壳温温度检测和控制范围0~200℃,可配置热板平台环境,RDSON检测范围1mΩ~160mΩ,可生成壳温、RDSON数据报表